In-Circuit-Test

Inhaltsverzeichnis

Was ist ein In-Circuit-Test (ICT)?

Der In-Circuit-Test (ICT) ist ein Prüfverfahren, das in der Elektronikfertigung eingesetzt wird, um die korrekte Funktion einer bestückten Leiterplatte (PCB) zu überprüfen. Dabei werden elektrische Tests an den Bauteilen und Verbindungen auf der Platine durchgeführt, ohne dass die Bauteile aus ihrem Schaltkreis entfernt werden müssen.

Was ist der Unterschied zwischen Flying Probe und In-Circuit-Test?

Im Gegensatz zum In-Circuit-Test, der feste Adapter verwendet, nutzt der Flying Probe Test (FPT) bewegliche Sonden, um elektrische Tests an verschiedenen Punkten der Leiterplatte durchzuführen. Dies bietet mehr Flexibilität, ist jedoch langsamer und weniger geeignet für die Massenproduktion.

Unterschied zwischen ICT, FPT und Funktionstest

Beide Tests (ICT und FPT) prüfen die individuelle Funktionsfähigkeit und Platzierung von Bauteilen. Der Funktionstest hingegen überprüft die Gesamtfunktion der Schaltung unter realen Bedingungen und misst das Zusammenspiel der einzelnen Bauteile.

Platine mit bestückten Elektronikbauteilen
Beim In-Circuit-Test werden die Bauteile auf Funktionsfähigkeit und Platzierung geprüft

Wie funktioniert der In-Circuit-Test?

Der ICT verwendet spezielle Prüfadapter, die direkt auf die Kontaktpunkte der Leiterplatte zugreifen. Durch die Anwendung von elektrischen Signalen und das Messen der Reaktionen kann der Test die Funktionsfähigkeit und korrekte Platzierung der Bauteile wie z.B. Widerstand, Kondensator und integrierter Schaltung (IC) prüfen. Fehler wie ein Kurzschluss, Unterbrechungen, Lötfehler oder ein defektes elektrisches Bauelement können so identifiziert werden.

Einsatzgebiete von ICT

Der ICT wird in der Serienfertigung von elektronischen Geräten verwendet, um die Qualität und Zuverlässigkeit der produzierten Platinen sicherzustellen.

Übrigens: Auch wir verwenden verschiedene Testverfahren, um Ihre Elektronik in einwandfreiem Zustand ausliefern zu können. Weitere Infos dazu finden Sie im Bereich Qualitätssicherung.

Vorteile des In-Circuit-Tests

Der ICT bietet zahlreiche Vorteile, die ihn zu einem unverzichtbaren Bestandteil der Leiterplattenbestückung machen:

  • Hohe Fehlererkennungsrate: Durch direkten Zugang zu den Bauteilen können selbst kleine Fehler zuverlässig erkannt werden.
  • Effizienz: Schnelle Testzeiten ermöglichen eine hohe Durchsatzrate in der Produktion.
  • Kosteneffizienz: Frühe Fehlererkennung reduziert die Kosten für Nacharbeit und Ausschuss.
  • Automatisierbarkeit: Der ICT kann leicht in automatisierte Fertigungsprozesse integriert werden, was die Produktionskosten weiter senkt.

Nachteile des In-Circuit-Tests

Trotz seiner vielen Vorteile gibt es auch einige Nachteile beim Einsatz des ICT:

  • Hohe Anfangsinvestitionen: Die Anschaffung der Testsysteme und Prüfadapter ist kostenintensiv.
  • Platinendesign-Anforderungen: Die Leiterplatten müssen für den ICT optimiert sein, was zusätzliche Anforderungen an das Platinenlayout mit sich bringt.
  • Einschränkungen bei komplexen Bauteilen: Sehr komplexe oder stark miniaturisierte Bauteile können schwerer zu testen sein.
Lesetipp: Erfahren Sie mehr über die Herausforderungen der Miniaturisierung von Elektronik.

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